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1. WO2020130940 - LINEAR TEMPERATURE CALIBRATION COMPENSATION FOR SPECTROMETER SYSTEMS

Publication Number WO/2020/130940
Publication Date 25.06.2020
International Application No. PCT/SG2019/050616
International Filing Date 17.12.2019
IPC
G01J 3/02 2006.01
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRA-RED, VISIBLE OR ULTRA-VIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
3Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
02Details
G01J 3/26 2006.01
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRA-RED, VISIBLE OR ULTRA-VIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
3Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
12Generating the spectrum; Monochromators
26using multiple reflection, e.g. Fabry-Perot interferometer, variable interference filter
Applicants
  • AMS SENSORS SINGAPORE PTE. LTD. [SG]/[SG]
Inventors
  • MIGUEL-SÁNCHEZ, Javier
Agents
  • POH, Chee Kian, Daniel
Priority Data
62/783,62221.12.2018US
Publication Language English (EN)
Filing Language English (EN)
Designated States
Title
(EN) LINEAR TEMPERATURE CALIBRATION COMPENSATION FOR SPECTROMETER SYSTEMS
(FR) COMPENSATION D'ÉTALONNAGE DE TEMPÉRATURE LINÉAIRE POUR SYSTÈMES DE SPECTROMÈTRE
Abstract
(EN)
In an example method, light is emitted towards a sample region, and sample light is received at an interferometer. A subset of the sample light is transmitted from the interferometer to a detector. Transmitting the subset of the sample light includes determining a reference voltage corresponding to the range of wavelengths of the subset of sample light, and a reference temperature. Transmitting the subset of sample light also includes determining a temperature of an environment, determining a bias voltage corresponding to a difference between the reference temperature and the temperature of the environment, and applying, to the interferometer, an input voltage corresponding to the sum of the reference voltage and the bias voltage. The subset of the sample light is measured by the detector, and a spectral distribution of light is determined based on the measurements.
(FR)
Dans un procédé donné à titre d'exemple, de la lumière est émise vers une région d'échantillon, et une lumière d'échantillon est reçue au niveau d'un interféromètre. Un sous-ensemble de la lumière d'échantillon est transmis de l'interféromètre à un détecteur. La transmission du sous-ensemble de la lumière d'échantillon comprend la détermination d'une tension de référence correspondant à la plage de longueurs d'onde du sous-ensemble de lumière d'échantillon, et d'une température de référence. La transmission du sous-ensemble de lumière d'échantillon comprend également la détermination d'une température d'un environnement, la détermination d'une tension de polarisation correspondant à une différence entre la température de référence et la température de l'environnement, et l'application, à l'interféromètre, d'une tension d'entrée correspondant à la somme de la tension de référence et de la tension de polarisation. Le sous-ensemble de la lumière d'échantillon est mesuré par le détecteur, et une distribution spectrale de lumière est déterminée sur la base des mesures.
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